カットサンプル欠点評価装置 | ALTIS-RP
カットサンプルにおける表面欠点の評価検査が
分解能15μmの欠点マップで簡単に検量・検証可能です。

用途・特徴
品質評価に不可欠なオフライン表面欠点検量のエキスパート装置としてご利用頂けます。
装置構成
本装置はユーザー様にて設置接続を行って頂く装置です。
水平な台の上に検査装置とPC本体を設置し、検査装置とPC
本体を2本のケーブルで接続するだけで設置完了です。

ラインナップ
ALTISには投光器の構成により3つのタイプがあります。
検査対象物・検査対象欠点により選択し、購入時にご指定ください。
※ ALTIS-Pはオプションでフィッシュアイ検査モデルにカスタマイズすることが出来ます。

各種画面
検査画面
情報管理画面(結果データ一覧)
情報管理画面(検出マップ表示/原画像表示/欠点リスト表示/検出画像一覧表示)
濃度計測画面
検査条件設定画面
波形モニター
仕様
分解能 | 幅方向 10μm × 長さ方向 10μm |
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カメラ | C-MOSラインセンサーカメラ(モノクロ) 16384画素 / 680MHz |
投光器 | LEDライン照明 (下記より選択できます。) ・ALTIS-RP (反射・透過) ・ALTIS-R (反射) ・ALTIS-P (透過) |
サンプルサイズ | サイズ: 210mm × 297mm (A4サイズ) 厚み: 0.05mm ~ max. 1.0mm |
検出判定 | 明・暗 階調、幅・長さ・面積 |
移動スピード | テーブル移動スピード 6 m/min. |
検査時間 | 約 15 秒 (1枚当たり) |
検査範囲 |
取込範囲: 160 mm × 230 mm ※検査サイズについてはお問い合わせください(特注設計) |
電源 | AC100~220V 50/60Hz |
PC |
CPU: Intel Core i7 3.4GHz |
外形図
