カットサンプル欠点評価装置 | ALTIS-RP
カットサンプルにおける表面欠点の評価検査が
分解能１５μｍの欠点マップで簡単に検量・検証可能です。
用途・特徴
品質評価に不可欠なオフライン表面欠点検量のエキスパート装置としてご利用頂けます。
装置構成
本装置はユーザー様にて設置接続を行って頂く装置です。
水平な台の上に検査装置とＰＣ本体を設置し、検査装置とＰＣ
本体を２本のケーブルで接続するだけで設置完了です。
ラインナップ
ALTISには投光器の構成により３つのタイプがあります。
検査対象物・検査対象欠点により選択し、購入時にご指定ください。
※ ALTIS-Pはオプションでフィッシュアイ検査モデルにカスタマイズすることが出来ます。
各種画面
検査画面
カットサンプルをスキャンし欠点を検出します。 検査結果は下の４つの画面で確認できます。
検査結果画面（検出マップ表示）
検査結果画面（原画像表示）
検査結果画面（欠点リスト表示）
検査結果画面（検出画像一覧表示）
情報管理画面（結果データ一覧）
過去に行った検査のデータを検査の際と同じ画面構成で確認できます。
過去の検査結果の中から任意のデータを選択し、USBメモリへCSV形式で保存できます。
情報管理画面（検出マップ表示/原画像表示/欠点リスト表示/検出画像一覧表示）
検査時と同じ４つの画面で過去の検査結果を確認できます。
濃度計測画面
欠点画像の濃度計測画面が呼び出せます。
濃度計測画面では欠点の階調レベルやサイズなどの解析が行えます。
検査条件設定画面
品種登録は最大100品種まで登録可能です。
検出感度、サイズなど各種設定を製品の種類別に登録できます。 検査開始時は登録された品種を選択するだけで適切な検査条件が設定されます。
波形モニター
※各画面表示の言語は装置起動時に日本語・韓国語・英語の中から選択できます。
検出器（カメラ・投光器）の調整は波形モニター機能を使用して行えます。
仕様
| 分解能 | 幅方向 10μm × 長さ方向 10μm |
|---|---|
| カメラ | C-MOSラインセンサーカメラ（モノクロ） 16384画素 / 680MHz |
| 投光器 | ＬＥＤライン照明 （下記より選択できます。） ・ALTIS-RP （反射・透過） ・ALTIS-R （反射） ・ALTIS-P （透過） |
| サンプルサイズ | サイズ： 210mm × 297mm (A4サイズ) 厚み： 0.05mm ～ max. 1.0mm |
| 検出判定 | 明・暗 階調、幅・長さ・面積 |
| 移動スピード | テーブル移動スピード 6 m/min. |
| 検査時間 | 約 15 秒 （１枚当たり） |
| 検査範囲 |
取込範囲： 160 mm × 230 mm ※検査サイズについてはお問い合わせください（特注設計） |
| 電源 | AC100～220V 50/60Hz |
| ＰＣ |
ＣＰＵ： Intel Core i7 3.4GHz |
外形図
