표면 결함 평가 장치 | ALTIS-RP
Cut sample에 대한 표면 결함의 평가 시험이 분해능 15μm의
결함 MAP에서 쉽게 검량 · 검증이 가능합니다.
용도/특징
품질 평가에 필수적인 오프라인 표면 결함 검량의 전문적인 장치로 사용할 수 있습니다.
장치구성
이 장치는 사용자가 설치해야하는 장치입니다.
수평인 받침대 위에 검사 장치와 PC 본체를 설치하고 검사 장치와 PC
본체를 2 개의 케이블로 연결하면 설치 완료입니다.
라인업
ALTIS에는 투광기의 구성에 따라 3 가지
유형이 있습니다.
검사 대상물 ·검사 대상 결함에 따라 선택하여 구입시 지정하십시오.
※ ALTIS-P는 옵션으로 생선 눈 검사 모델로 개조할 수 있습니다.
각종 화면
검사화면
Cut sample의 검사와 결과를 확인합니다.
검사 결과의 확인은 4 종류의 화면을
사용하여 수행합니다.
검사화면（검출 MAP 표시）
검사화면（원 화상 표시）
검사화면（결함 LIST 표시）
검사화면（검출 화상 일람표시）
정보 관리 화면（결과 DATA 목록）
과거의 검사 결과에서 원하는 DATA를 선택하고 USB 메모리에 CSV 형식으로
저장할 수 있습니다.
정보 관리 화면（검출 MAP 표시/원 화상 표시/결함 LIST 표시/검출 화상 일람표시）
과거에 실시한 검사의 DATA를 검사 때와 동일한 화면 구성으로 확인할 수 있습니다.
농도 측정 화면
결함 화상의 농도 측정 화면이 호출 할 수 있습니다.
농도 측정 화면에서 결함의 계조 LABEL과
크기 등의 분석이 가능합니다.
검사 조건 설정 · 검출기 조정 화면
품종 등록은 최대 100 종류까지 등록 가능합니다.
검출 감도, 크기 등 각종 설정을 제품의
종류별로 등록 할 수 있습니다.
검사 시작시 등록 된 품종을 선택하는
것만으로 적절한 검사 조건이 설정됩니다.
파형 모니터
※화면표시는 장치를 켰을때 일본어 · 영어 · 한국어 중에서 선택할 수 있습니다.
검출기 (카메라 · 투광기)의 조정은 파형
모니터 기능을 사용하여 할 수 있습니다.
사양
| 분해능 | 폭 방향 10μm × 길이 방향 10μm |
|---|---|
| 카메라 | C-MOS LINE 센서 카메라 (흑백) 16384 화소 / 680MHz |
| 투광기 | LED LINE 조명 (아래에서 선택할 수 있습니다.) ・ALTIS-RP (반사 · 투과) ・ALTIS-R (반사) ・ALTIS-P (투과) |
| 샘플 크기 | 크기 : 210mm × 297mm (A4 사이즈) 두께 : 0.05mm – max. 1.0mm |
| 검출 판정 | 밝음·어두움 계조, 폭 · 길이 · 면적 |
| 이동 속도 | 테이블 이동 속도 6 m / min. |
| 검사 시간 | 약 15 초 (1 장당) |
| 검사 범위 |
캡처 범위 : 160 mm × 230 mm (10680 pix. × 15333 pix.) ※검사 사이즈에 대해서는, 문의해 주십시오. (특별주문 설계) |
| 전원 | AC100～220V 50/60Hz |
| PC | ＣＰＵ： Intel Core i7 3.4GHz 메모리: 16 GB 확장 버스: PCI / PCI Express HDD 용량: 1TB ＯＳ： Winows |
외형도
